EN 62047-9-2011 半导体器件.微型机电器件.第9部分:微机电系统硅片的硅片键合强度试验(IEC62047-9-2011).德文版本EN62047-9-2011

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 22:19:10  浏览:8900   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part9:WafertowaferbondingstrengthmeasurementforMEMS(IEC62047-9:2011);GermanversionEN62047-9:2011
【原文标准名称】:半导体器件.微型机电器件.第9部分:微机电系统硅片的硅片键合强度试验(IEC62047-9-2011).德文版本EN62047-9-2011
【标准号】:EN62047-9-2011
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2012-03
【实施或试行日期】:2012-03-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Bonding;Components;Compounds;Compression;Connections;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Intermediatelayers;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microsystemtechniques;Properties;Semiconductordevices;Specification(approval);Strengthofmaterials;Surfacetreatment;Symbols;Systemengineering;Testing;Visualinspection(testing);Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语